首页 > tem电镜样品 > 正文

扫描电镜脱水步骤

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。

扫描电镜脱水步骤详解

扫描电镜脱水步骤

扫描电镜(SEM)是一种广泛用于材料微观结构分析的显微镜,具有高分辨率、高对比度等特点。在分析过程中,样品前处理是至关重要的一个环节。本文将为您介绍扫描电镜脱水步骤的详细操作方法。

一、样品准备

1. 选择合适的样品:扫描电镜脱水适用于多种类型的样品,如金属、陶瓷、玻璃等。在使用前,请确保样品表面干净,无污垢和氧化物。

2. 制备样品:将样品放入坩埚中,在高温下煅烧一段时间,以去除有机物和杂质。待样品冷却至室温后,将其放置在扫描电镜样品台上。

3. 涂覆样品:用扫描电镜专用脱水剂涂覆样品表面。涂覆时要均匀,以保证样品表面脱水均匀。

二、脱水步骤

1. 低真空干燥:将扫描电镜样品台放入真空干燥箱中,设定真空度为100kPa,温度为120℃,烘烤时间为1小时。此步骤旨在去除样品表面的水分。

2. 中真空干燥:将样品台从真空干燥箱中取出,放入另一台真空干燥箱中,真空度为50kPa,温度为120℃,烘烤时间为30分钟。此步骤将继续去除样品表面水分。

3. 高真空干燥:将样品台从真空干燥箱中取出,放入真空干燥箱中,真空度为10kPa,温度为120℃,烘烤时间为30分钟。此步骤将确保样品表面脱水彻底。

三、脱水后的样品处理

1. 取出样品:将样品从扫描电镜样品台中取出,放入坩埚中,等待样品冷却至室温。

2. 断面:使用扫描电镜专用断面刀将样品切成适当厚度的断面。切面要平整,以保证观察效果。

3. 观察:将断面放入扫描电镜中,选择适当的放大倍数进行观察。通过扫描电镜观察,您可以获得有关样品微观结构的信息。

总结

通过以上步骤,您可以完成扫描电镜脱水过程。在实际操作中,具体步骤可以根据您的需求和样品特性进行调整。希望本

专业提供fib微纳加工、二开、维修、全国可上门提供测试服务,成功率高!

扫描电镜脱水步骤 由纳瑞科技tem电镜样品栏目发布,感谢您对纳瑞科技的认可,以及对我们原创作品以及文章的青睐,非常欢迎各位朋友分享到个人网站或者朋友圈,但转载请说明文章出处“扫描电镜脱水步骤